交互式可配置成像排列芯片（SKED）

斑刀邊緣檢測(cè)器是一種檢測(cè)粗糙樣品表層的激光超聲波技術(shù)。傳統(tǒng)的非激光超聲需要接觸傳感器以產(chǎn)生和檢測(cè)超聲波。這類方法不適合難以接近的和危險(xiǎn)的環(huán)境。激光超聲可通過激光產(chǎn)生和檢測(cè)聲波來解決這些問題。

該技術(shù)的優(yōu)勢(shì)是能與現(xiàn)有顯微鏡相匹配，同時(shí)可提供相關(guān)額外性能。

該技術(shù)主要可促成無損評(píng)價(jià)市場(chǎng)中激光超聲波的應(yīng)用。因此SKED的主要市場(chǎng)將是無損檢測(cè)和測(cè)量。該技術(shù)有望成為激光超聲波測(cè)量/檢測(cè)系統(tǒng)，如無縫鋼管和復(fù)合檢查系統(tǒng)的一部分。

技術(shù)成熟度：正在申請(qǐng)英國(guó)專利

外方提議合作方式：外方期望以許可方式開展合作